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《中国材料工程大典第26卷 材料表征与检测技术》
 
《中国材料工程大典第26卷 材料表征与检测技术》  [编    著]:  徐祖耀院士 黄本立院士 鄢国强教授
 [出 版 社]:  化学工业出版社
 [卷 册 数]:  一册
 [光 盘 数]:  无
 [开    本]:  16开精装
 [出版日期]:  2006年2月
[价 格]¥160.00

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 内容简介:《中国材料工程大典第26卷 材料表征与检测技术》

《中国材料工程大典第26卷 材料表征与检测技术》
《中国材料工程大典第26卷 材料表征与检测技术》


 详细目录:
《材料表征与检测技术》卷是《中国材料工程大典》中的卷目之一。
材料表征与检测技术是材料与工程的重要组成部分,是产品质量控制的重要基础。本卷主要内容涵盖了材料表征与检测技术概论、化学成分分析方法、常用材料的化学成分分析、材料物理性能测试、材料力学性能测试、材料化学性能测试、金相分析、无损检测、X射线衍射分析、电子显微分析以及核技术分析及其他检测与表征技术等方面。
参加本卷编写工作的有上海交通大学、厦门大学、上海材料研究所、福州大学、复旦大学、浙江大学、华东师范大学、上海大学、中科院上海硅酸盐研究所、北京有色金属研究总院等单位的50余位专家教授,并由我们三人担任本卷的主编。本卷共设11篇79章,共约250万字。
本书的编写工作遵循“科学性、先进性、可靠性和实用性”的原则,以材料表征与检测技术方面比较成熟的理论、方法和数据为主,同时参考了国内外材料表征与检测方面的新进展,反映当代材料表征与检测技术的先进水平。本书主要供具有大专以上文化水平的有关工程技术人员查阅使用,也可供理工科院校的有关师生参考。
第1篇  概论  主编:徐祖耀院士  黄本立院士  陈文哲教授
鄢国强教授  朱万森教授
1.材料表征与检测在材料工程中的地位和作用  2.材料表征与测试技术概述  3.材料检测实验室质量管理  4.材料检测的数据处理与表述  5.材料表征与检测技术的展望
第2篇  化学成分分析方法  主编:黄本立院士  吴 诚教授  方禹之教授 邱德仁教授  吴性良教授三育人图书网syrbook.com
1.概述  2.试样的分解与前处理  3.化学分析法  4.电化学分析法  5.光学与谱学分析法  6.其他分析方法第3篇  常用材料的化学成分分析  主编:鄢国强教授  马冲先教授  卓尚军研究员
1.钢铁材料的化学分析方法  2.非铁金属材料的化学分析方法  3.无机非金属材料的化学分析方法 4.高分子材料的化学分析方法
第4篇  材料物理性能测试  主编:陈文哲教授  李  强教授
1.热学性能  2.材料的电学性能  3.材料的磁学性能  4.材料的光学性能  5.材料的压电性能与铁电性能
第5篇  材料力学性能测试  主编:陈文哲教授  陈运远教授  杨晓华教授
1.金属材料单向静拉伸性能试验  2.金属材料扭转、弯曲与压缩性能  3.材料的硬度试验  4.缺口敏感性与缺口强度实验  5.冲击韧度实验  6.材料的断裂韧度试验  7.材料的疲劳性能  8.材料的磨损性能  9.金属
第6篇  材料化学性能测试  主编:杨 武教授  李光福教授
1.金属材料耐腐蚀性能的测试  2.材料在环境介质作用下的力学性能  3.有机合成材料的腐蚀与老化性能测试
第7篇  金相分析  主编:唐汝钧教授  李 晋教授
1.引言  2.金相检验技术及设备  3.宏观检验  4.结构钢金相检验  5.工模具钢  6.轴承钢的金相检验  7.弹簧钢金相检验  8.不锈钢、耐热钢及高温合金的金相检验  9.铸钢和铸铁的金相检验  10.焊接接头金相检验  11.非铁金属  12.粉末冶金  13.材料表面处理后的组织鉴定及评定  14.金属晶粒度评定  15.非金属夹杂物的金相鉴定  16.定量金相  17.常用金相检验标准目录
第8篇  无损检测  主编:王务同教授  杨晓华教授
1.概述  2.射线照相法  3.超声波方法  4.磁粉方法  5.渗透方法  6.涡流方法  7.其他方法
第9篇  X射线衍射分析  主编:漆 玄教授  蒋建中教授
1. X射线衍射原理和方法  2.多晶体物相分析  3.点阵常数的精确测定  4.精细分析  5.宏观应力测定  6. X射线衍射线形分析  7.织构测定  8.单晶取向的测定  9.非晶体的X射线分析  10.同步辐射X射线衍射技术
第10篇  电子显微分析  主编:陈世朴教授  孙 坚教授
1.透射电子显微分析原理  2.电子衍射原理及方法  3.透射电镜成像技术  4.扫描电子显微分析  5.微区成分分析
第11篇  核技术分析及其他检测与表征技术  主编:陈世朴教授  梁 齐教授
1.概述  2.离子探针  3.三维原子探针  4.俄歇电子能谱仪  5.扫描隧道显微镜和扫描探针显微镜 6. X射线光电子能谱  7.穆斯堡尔谱方法  8.正电子湮没技术  9.内耗表证  10.特殊和极端条件下的测试技术
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